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検査装置および携帯検査器
勵威電子は、さまざまな光学検査装置および携帯式検査器を導入し、メーカーと協力して開発しています：
- パーティクル検査装置：
工場、手術室、クリーンルーム環境で微粒子の流れを検査し、
最小0.1μmの微粒子を検出でき、微粒子の発生源を特定するのに役立ちます。 - AOI光学検査装置：
異なる材料（例：シリコン、ガラス、SiC、セラミックなど）に対して製品の外観潜在的な欠陥を検査し、
製品品質を管理するのに役立ちます。 - 携帯式検査器：
異なる材料、工場、設備パイプラインに対応し、さまざまな光源と組み合わせて、
設備およびエンジニアリングスタッフが微粒子、化学薬品、ガスなどの漏れを検出するのに役立ちます。
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AOI光学検査装置-EDS15
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